TK-3E 177313-02-02ベーニングネバダ近接システムテストキット

TK-3E 177313-02-02ベーニングネバダ近接システムテストキット

TK-3近接システムテストキットは、ベーニングネバダモニターを較正するためのシャフトの振動と位置をシミュレートします。モニターの読み取りの動作条件と、近接トランスデューサーシステムの条件を検証します。適切に調整されたシステムにより、トランスデューサー入力と結果のモニターの測定値が正確になります。

TK-3は、取り外し可能なスピンドルマイクロメートルアセンブリを使用して、トランスデューサーシステムを確認し、監視キャリブレーションを位置付けます。このアセンブリは、5 mmから19 mm（0.197インチから0.75インチ）のプローブ直径に対応するユニバーサルプローブマウントを備えています。マウントはプローブを保持し、ユーザーはターゲットを調整した増分でプローブチップに向かってまたは離れて移動し、電圧計を使用してプロキシターセンサーから出力を記録します。スピンドルマイクロメーターアセンブリは、フィールドでの使いやすさのための便利な磁気ベースも備えています。

振動モニターは、モーター駆動型のぐらつきプレートを使用して較正されています。ぐらつきプレートの上にあるスイングアームアセンブリは、近接プローブを所定の位置に保持します。このアセンブリは、スピンドルマイクロメーターアセンブリと同じものと同じユニバーサルプローブマウントを使用します。マルチメーターと組み合わせて近接プローブの絶対スケール係数を使用することにより、ユーザーはプローブを調整して、必要な量の機械的振動（ピーク間DC電圧出力で決定）が存在する位置を見つけます。オシロスコープは必要ありません。